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產品介紹
參數性能
產品優勢
缺陷圖例

晶硅電池PECVD鍍膜檢測模塊

主要用于檢測晶硅電池片鍍膜工藝后的色差和表面缺陷

產品型號：LP^solar- SP200 (面陣)、LP^solar- SP300 (線掃)

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參數性能

產能	≥4500片/小時
最高檢測精度	90μm
設備有效時間	≥99%
重復檢測率	>99.9%
破片率	<0.05%（機械臂吸片）
重復性	99.85%
外形尺寸	單檢測工位：430mm350mm600mm
重量	單檢測工位≤20KG

產品優勢

配備深度學習功能，將缺陷的標準交給生產商
配備標準WEB、SQL接入口
不停頓成像模式、不停頓剔除NG片
靈活、可定義的分選標準
定制化工程方案

缺陷圖例

白點
臟污
片內色差
整體色差
邊緣繞度
刻蝕印

浙江省杭州市臨安區濱河路17號LinkPark產業社區3號樓
0571-61109729
leaper@hzleaper.com

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產品應用: 靈閃視覺通用平臺; 薄膜表面缺陷檢測; 晶硅電池檢測

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